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    2. 產品詳情
      • 產品名稱:熒光X射線膜厚檢測裝置

      • 產品型號:
      • 產品廠商:nalex
      • 產品文檔:
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      簡單介紹:
      熒光X射線膜厚檢測裝置 特征 高測量精度和再現性 自動程序控制的高性能 X 射線管和高靈敏度探測器顯著減少了測量薄膜厚度的變化。 徹底追求便利 專用軟件和附帶的個人電腦完全獨立于主機??紤]到緊急情況下的備份和數據組織的可操作性,徹底追求生產現場的便利性的測量機。 500萬日元起的適當售價 內部結構模塊化,沒有任何浪費。已經實現了初始成本的顯著降低。它具有出色的可維護性,并且可以僅快速更換必要的部件。
      詳情介紹:

      規格

      模型 高、高清 大號 印刷電路板
      測量對象 單層鍍、2層鍍、3層鍍、合金鍍
      測量元件 21 (Sc) -92 (U)
      檢測范圍 0.01 μm ~(取決于測量元件)
      X 射線管 W 靶、真空油冷、管內電流(0 至 1mA)
      探測器 比例系數管法(半導體探測器可選)
      準直器 單準直器或自準直器
      (φ0.1、φ0.2、φ0.3、φ0.4、0.05 × 0.3mm)
      樣品臺移動 XYZ步進電機
      樣板間攝像頭 數碼CCD相機標準設備
      可測量范圍(mm) W200xD150xH100 W200xD150xH30 寬∞xD150xH30
      允許負載(公斤) 3 3
      設備外形尺寸(mm) W610xD670xH600 W610xD670xH490 W610xD670xH490

      監視器顯示

      從工具欄中選擇的各種屏幕可以在顯示器的任何位置只顯示您需要的內容,有助于提高工作效率。測量數據可以多種形式報告。您可以通過選擇必要的信息輕松創建報告。

      用法

      ▽ 通過安裝專用治具大大提高了工作效率

      ▽ 通過高速移動樣品臺減少工作時間

      ▽ 專用準直器和程序的高再現性

      ▽ 使用附帶的開關,輕觸按鈕即可輕松操作

      ▽ 用于連續測量大型基板的 3 路開放式腔室

      ▽ 使用各種坐標輸入程序的高速連續測量

      ▽ 0.01 μm 以上的 Au 和 3 層鍍層的高靈敏度測量

      ▽ 合金鍍層同時測量厚度和成分比

      ▽ 可根據被測物體的形狀選擇各種準直器

      ▽ 用于小型測量對象的微聚焦 X 射線管

      ▽ 支持大物體、復雜形狀的測量

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